JIMA RT RC-05B分辨率测试卡

JIMA RT RC-05B 分辨率测试卡是一款采用zui新半导体光刻技术制作的分辨率测试卡。它用于校准和监控系统分辨率，确保微焦点或纳米焦点X射线检测系统获得高质量的结果。

JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米（3 μ m至50 μ m）的分辨率。这对应于6微米和100微米（6 μ m和100 μ m）之间的焦斑尺寸。

JIMA RT RC-05 X射线分辨率测试卡
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm
芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm
图案布局：T型 （3-10μm）
I 型 （15-50μm）
线/空间尺寸：16种规格图案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）
15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)